•Uwe Wozniak^1,2, Michael Merz¹ und Jochen Geerk^1
1Forschungszentrum Karlsruhe, Institut für Festkörperphysik, Postfach 3640, D-76021 Karlsruhe
²Universität Karlsruhe (TH), Fakultät für Physik, Postfach 6980, D-76128 Karlsruhe

In der RABiTS Technologie hat neben der biaxialen Textur der Folie die Schichtfolge einen starken Einfluss auf die Transporteigenschaften der supraleitenden Schicht. Um das Schichtwachstum und die während der Deposition auftretenden Effekte genauer zu untersuchen, wurde das RABiTS-Band durch (100) orientiertes Nickel simuliert, das durch Aufdampfen im UHV hergestellt wurde. Hierauf wurde die von der Oak Ridge Gruppe vorgeschlagene Mehrlage YBa₂Cu₃O_7-d//CeO₂//YSZ//CeO₂ deponiert, wobei auf die Nickel-Schicht zuvor eine Palladium-Schicht zur Vermeidung von (111) orientiertem NiO aufgedampft wurde. Das CeO₂ der CeO₂//Pd//Ni-Schichtfolge wurde reaktiv aufgedampft; die YBa₂Cu₃O_7-d//CeO₂//YSZ-Schichtfolge wurde gesputtert. Die Mehrlagen wurden durch Messungen der Transporteigenschaften und der biaxialen Textur charakterisiert. Durch Röntgenspektren und AFM-Bilder wird gezeigt, dass eine Ni-Pd-Legierungsbildung und eine Ni- und Pd-Oxidation maßgeblich die Eigenschaften der nachfolgenden Schichten bestimmt.