C. Bacca¹, F. Pérez-Willard¹, H. B. Weber², E. Scheer^1,3 und H. v. Löhneysen^1,4
1Physikalisches Institut, Universität Karlsruhe
²Forschungszentrum Karlsruhe, Institut für Nanotechnologie
³Fachbereich Physik, Universität Konstanz
⁴Forschungszentrum Karlsruhe, Institut für Festkörperphysik

Wir untersuchen elektronenstrahllithographisch hergestellte Cu:Mn-Brücken (laterale Abmessungen 80x80 nm², Dicke 10 nm), die mit niederohmigen Cu-Reservoiren (Dicke 650 nm) verbunden sind. Dies ermöglicht die Messung des differentiellen Leitwerts über einen groß en Spannungsbereich. Wir finden logarithmisches U/T-Skalenverhalten für eine 52 ppm Mn-Probe, das ähnlich schon früher für reine Cu- Nanobrücken gefunden wurde. Eine Probe mit etwa 140 ppm zeigt qualitativ das gleiche Skalenverhalten. Überraschenderweise hängt dieses Verhalten kaum von einem angelegten Magnetfeld B ab. Der Magnetoleitwert zeigt, wie erwartet, ein Maximum bei B = 0. Die beobachtete nicht streng monotone Feldabhängigkeit zu hohen Feldern bis 8 T wird mittels Korrelationsfunktionen auf universelle Leitwertfluktuationen untersucht.