Oberflächenstromdichte in der Grundelektrode supraleitender Mikrostreifenleitungsresonatoren

•Rudolf Schneider, Alexander G. Zaitsev, Jochen Geerk, Gerhard Linker, Fritz Ratzel und Ray Smithey
Forschungszentrum Karlsruhe, IFP, Postfach 3640, D-76021 Karlsruhe

Bei Messungen der unbelasteten Güte Qo gestreckter Resonatoren aus YBaCuO in Mikrostreifenleitertechnik wurde gefunden, dass eine metallische Kontaktschicht, z.B. aus Au, auf der YBaCuO-Grundelektrode Qo stark verringert. Diese Beobachtung kann durch das Eindringen der Mikrowelle in die Au-Schicht erklärt werden, wodurch sich der effektive Oberflächenwiderstand erhöht. Die Abhängigkeit des zusätzlichen Verlustes von den Dicken der Au- und YBaCuO- Schichten sowie der London-Eindringtiefe im Supraleiter und der Skintiefe im Normalleiter kann mit den Regeln zur Impedanztransformation in Übertragungsleitungen analysiert werden. Um den durch die Au-Schicht verursachten zusätzlichen Verlust zu eliminieren, wurde sie zu zwei Streifen parallel zum YBaCuO-Streifenleiter mit einem Abstand d von der Streifenleitermitte strukturiert.Die Messung von Qo in Abhängigkeit von d wurde mit Berechnungen der Oberflächenstromdichte js in der Grundelektrode verglichen. Der Vergleich ergab, dass zum Erreichen maximaler Güten d größer sein muss als die laterale Ausdehnung von js, die von der Streifenleiterbreite w abhängt. Leistungsabhängige Messungen lassen den Schluss zu, dass bei hohen Leistungen die effektive Breite des Streifens reduziert wird, weil dessen Randzonen durch Überschreiten der kritischen Stromdichte normalleitend werden.