•Mathias Flörsheimer1, Arne Rosenfeldt2 und
Harald Fuchs2
1Institut für Nukleare Entsorgung, Forschungszentrum
Karlsruhe, Postfach 3640, 76021 Karlsruhe
2Physikalisches Institut, Universität Münster,
Wilhelm-Klemm-Str. 10, 48149 Münster
Durch konfokale Frequenzverdopplungs-Mikroskopie wird die Domänenverteilung im Innern und an der Oberfläche ferroelektrischer Proben mit dreidimensionaler fernfeldoptischer Auflösung abgebildet. Die zerstörungsfreie Technik erfordert keinerlei Probenvorbereitung. Periodisch invertierte Domänenstrukturen, die zum Zwecke der Quasiphasenanpassung in integriert optische Bauelemente hineingeschrieben werden, können bereits auf einer Stufe des Fabrikationsprozesses beobachtet werden, bei dem die Polungselektroden noch vorhanden sind.
Das Verfahren basiert auf der Erzeugung eines wesentlich stärkeren frequenzverdoppelten Signals an den Domänenwänden im Vergleich zum ungestörten Volumenmaterial. Die Intensität des im Laserfokus erzeugten Signals wird als Funktion des Abstrahlwinkels gemessen. Die Abstrahlcharakteristik wird mit einem Dipoloszillatormodell quantitativ beschrieben.