Qualifizierung der Strahlungstoleranz der CMS-Siliziumstreifensensoren - II

•A. Dierlamm, W. de Boer, A. Furgeri, E. Grigoriev, F. Hartmann, Th. Müller und Ch. Piasecki
Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe (TH)

Die zukünftigen Siliziumspurdetektoren am LHC sind einer hohen Strahlenbelastung ausgesetzt, welche bei den Streifensensoren von CMS in 10 Betriebsjahren eine Fluenz von 1,6·1014 1MeV äquivalenten Neutronen pro cm2 erreicht.
Die dadurch notwendige Qualifizierung der Strahlungstoleranz der eingesetzten Sensoren wird besprochen und die ersten bestrahlten Sensoren in Hinblick auf ihre Funktionsfähigkeit nach 10 Jahren LHC beurteilt.
Die erwartete volle Depletionsspannung wird als Funktion der Strahlungsdosis und Ausheilzeit (Annealing) mit dem Hamburger Modell berechnet und verglichen mit ersten Bestrahlungsresultaten.