Fehleranalyse von U(I)-Kennlinien technischer Supraleiter.

•Hanno Leibrock, Claudia Ruf und Theo Schneider
Institut für Technische Physik, Forschungszentrum Karlsruhe GmbH, Hermann-von-Helmholtz-Platz 1, 76344 Eggenstein-Leopoldshafen

In der HFL-Gruppe des Instituts für Technische Physik am Forschungszentrum Karlsruhe werden supraleitende Hochfeld-Experimentieranlagen konzipiert, aufgebaut und betrieben. Ein aktuelles BMBF-Verbundprojekt ist die Entwicklung von supraleitenden 23.5 Tesla Magnetspulensystemen mit hoher räumlicher und zeitlicher Feldhomogenität für 1000 MHz NMR-Spektrometer. Für die Prüfung und Optimierung der dazu erforderlichen NbTi-, (NbX)3Sn- und HTSL-Drähte müssen hierfür mit den im Forschungszentrum vorhandenen Experimentieranlagen HOMER I und JUMBO zahlreiche Messungen von E(I)-Kennlinien unter den Bedingungen des späteren Einsatzpunktes durchgeführt werden. Um die Aussagekraft der E(I)-Messungen festzulegen, wurde eine ausführliche Fehleranalyse durchgeführt, deren wichtigste Teilaspekte in diesem Beitrag vorgestellt werden. Die Abhängigkeiten der systematischen und statistischen Fehler relevanter Leitergrößen (z.B. kritischer Strom, kritische Stromdichte, Pinning-Kraft) von den experimentellen Parametern (z.B. Temperaturschwankungen, Feldeinhomogenitäten, apparative Fehler) werden betrachtet und miteinander verglichen.