Elektrischer Widerstand von dünnen Pd-Filmen auf Eu1-xSrxS

ĽA. Cosceev1, C. Sürgers1 und H. v. Löhneysen1,2
1Physikalisches Institut und DFG Center for Functional Nanostructures (CFN), Universität Karlsruhe, D-76128 Karlsruhe
2Forschungszentrum Karlsruhe, Institut für Festkörperphysik, D-76021 Karlsruhe

Wir berichten über Messungen des elektrischen Widerstands von dünnen Pd-Filmen auf isolierenden, magnetischen Eu1-xSrxS-Schichten für Temperaturen T = 1.5-300 K und in Magnetfeldern bis B = 5 T. Dazu werden 50-nm dicke Eu1-xSrxS-Schichten mit 0.5 £ x £ 0.7 durch Elektronenstrahlverdampfung im UHV auf Si(111)-Substraten bei Temperaturen TS = 800°C hergestellt, die anschließend in-situ bei Raumtemperatur mit 7 nm Pd beschichtet werden. Die Charakterisierung der magnetischen Eigenschaften der Eu1-xSrxS-Schichten geschieht durch Messung der Magnetisierung und der magnetischen Suszeptibilität. Der elektrische Widerstand R steigt unterhalb von etwa T = 10 K an und zeigt ein ausgeprägtes Maximum, dessen Lage sich mit zunehmender Magnetfeldstärke zu tieferen Temperaturen verschiebt. Der Vergleich mit den magnetischen Eigenschaften zeigt, dass das Auftreten dieses Maximums verbunden ist mit der Änderung der magnetischen Ordnung im isolierenden Eu1-xSrxS. Die unterschiedlichen Streuprozesse werden durch Messung des Magnetowiderstands und dessen Analyse mit Hilfe der Theorie der schwachen Lokalisierung ermittelt.