•A. Cosceev1, C. Sürgers1 und H. v. Löhneysen1,2
1Physikalisches Institut und DFG Center for Functional Nanostructures
(CFN), Universität Karlsruhe, D-76128 Karlsruhe
2Forschungszentrum Karlsruhe, Institut für Festkörperphysik,
D-76021 Karlsruhe
Wir berichten über Messungen des elektrischen Widerstands von dünnen
Pd-Filmen auf isolierenden, magnetischen Eu1-xSrxS-Schichten
für Temperaturen T = 1.5-300 K und in Magnetfeldern bis B = 5 T. Dazu
werden 50-nm dicke Eu1-xSrxS-Schichten mit 0.5 £
x £ 0.7 durch Elektronenstrahlverdampfung
im UHV auf Si(111)-Substraten bei Temperaturen TS = 800°C
hergestellt, die anschließend in-situ bei Raumtemperatur mit 7 nm
Pd beschichtet werden. Die Charakterisierung der magnetischen Eigenschaften
der Eu1-xSrxS-Schichten geschieht durch Messung der
Magnetisierung und der magnetischen Suszeptibilität. Der elektrische
Widerstand R steigt unterhalb von etwa T = 10 K an und zeigt ein ausgeprägtes
Maximum, dessen Lage sich mit zunehmender Magnetfeldstärke zu tieferen
Temperaturen verschiebt. Der Vergleich mit den magnetischen Eigenschaften
zeigt, dass das Auftreten dieses Maximums verbunden ist mit der Änderung
der magnetischen Ordnung im isolierenden Eu1-xSrxS.
Die unterschiedlichen Streuprozesse werden durch Messung des Magnetowiderstands
und dessen Analyse mit Hilfe der Theorie der schwachen Lokalisierung ermittelt.